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导读：低电阻测量是ICT测试中的技术难点。本文详细解读二线制测量的误差来源、四线制（Kelvin）测量原理，以及安硕ICT测试仪如何通过专利技术实现1mΩ级测量精度。

四线制测量探针接触电路板测试点，消除线阻和接触电阻影响

1. 二线制测量的固有误差

在电阻测量中，最常见的方法是二线制：两根测试线同时承担电流供给和电压测量的任务。这种方法在测量百欧级以上电阻时问题不大，但当被测电阻降到毫欧级别时，测试线本身的线阻、探针与焊盘之间的接触电阻就会叠加到测量结果中。例如，探针接触电阻通常在几十毫欧量级，如果被测电阻只有10毫欧，接触电阻带来的误差可能高达百分之几百，测量结果完全失去意义。

许多入门级ICT测试机受限于架构，10Ω以下电阻无法准确测试，只能报出"大致正常"的结果，这对于功率回路、电流采样、连接器接触电阻等关键节点的检测是远远不够的。

2. 四线制测量的工作原理

四线制测量法（Kelvin测量）使用四根独立的探针：两根Force线提供恒定测试电流，另外两根Sense线直接在被测元件两端采样电压。由于Sense线输入阻抗极高，流过Sense线的电流近似为零，因此Sense线上的线阻和接触电阻不会产生压降，电压表测得的电压就是被测电阻两端的真实电压。根据欧姆定律R=V/I，即可精确计算出被测电阻值，从原理上消除了线阻和接触电阻的影响。

3. ICT测试仪中的工程实现

四线制原理虽然清晰，但在ICT设备中工程实现并不简单。安硕AnSo618R超低电阻测试仪采用专利四线式测试技术（专利号ZL201720504583.0），在开关电路板上集成了超低阻测试功能模块，配合高精度信号源和专有测试算法，最小测试精度可达1mΩ。这要求开关矩阵在切换Force和Sense通道时保持极低的导通电阻和热电势，同时测试电流源具备足够的稳定性和分辨率。

2026款AnSo618系列开关电路板采用SMD贴片工艺和ADI高速开关器件，主控采用FPGA芯片，通道切换速度更快、一致性更好，为毫欧级测量提供了硬件基础。

4. 低阻测试的典型应用

毫欧级低阻测试在PCBA制造中有明确的应用场景：连接器焊点质量、继电器触点接触电阻、功率MOSFET导通电阻Rds(on)、电流采样电阻、变压器绕组电阻、线束接插件压接质量等。这些节点的电阻值通常在几毫欧到几百毫欧之间，二线制无法准确测量，四线制是行业公认的可靠方案。

安硕AnSo618R支持0.1Ω至100MΩ的常规电阻测试，低阻模式下覆盖1mΩ至1KΩ范围，测试点数标配640点、可扩充至2048点，满足绝大多数电路板低阻测量需求。对于同时需要常规ICT检测和超低阻测试的客户，一台设备即可覆盖全部测试项目。

标签：ICT测试仪, ICT测试, 低阻测试, 四线制测量, 毫欧测试, AnSo618R, 电阻测量